3D IC集成和封装(英文影印版)
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作者(美)刘汉诚
出版社清华大学出版社
ISBN9787302600657
出版时间2022-04
版次1
装帧平装
开本16开
纸张胶版纸
页数476页
字数750千字
定价129元
货号SC:9787302600657
上书时间2024-04-26
商品详情
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作者简介:
"刘汉诚（John H. Lau），伊利诺伊大学香槟分校理论与应用力学博士，不列颠哥伦比亚大学结构工程硕士，威斯康星大学麦迪逊分校工程力学硕士，菲尔莱狄更斯大学管理科学硕士，台湾大学土木工程学士。
历任台湾欣兴电子股份有限公司CTO、香港ASM太平洋科技有限公司高级技术顾问、台湾工业技术研究院研究员、香港科技大学客座教授、新加坡微电子研究院MMC实验室主任、惠普实验室/安捷伦公司资深科学家（超过25年）。
拥有40多年的集成电路研发和制造经验，专业领域包括集成电路的设计、分析、材料、工艺、制造、认证、可靠性、测试和热管理等，目前研究领域为芯片异构集成、SiP、TSV、扇出/扇入晶圆/面板级封装、MEMS、mini/ micro LED、3D IC集成、SMT和焊接力学等。
发表480多篇论文，发明30多项专利，举办 300多场讲座，撰写20多部教科书（涉及3D IC 集成、TSV、优选 MEMS 封装、倒装芯片 WLP、面积阵列封装、高密度 PCB、SMT、DCA、无铅材料、焊接、制造和可靠性等领域）。
ASME Fellow、IEEE life Fellow、IMAPS Fellow，积极参与ASME、IEEE和IMAPS的多项技术活动。获得ASME、IEEE、SME等协会颁发的多项荣誉，包括IEEE/ECTC很好会议论文（1989)、IEEE/EPTC很好论文奖(2009)、ASME Transactions很好论文奖(电子封装杂志，2000)、IEEE Transactions很好论文奖(CPMT，2010)、ASME/EEP杰出技术成就奖(1998)、IEEE/CPMT电子制造技术奖(1994)、IEEE/CPMT杰出技术成就奖(2000)、IEEE/CPMT杰出持续技术贡献奖（2010）、SME电子制造全面很好奖（2001）、潘文渊杰出研究奖（2011）、IEEE 继续教育杰出成就奖（2000）、IEEE CPMT技术领域奖（2013）和 ASME 伍斯特·里德·华纳奖章（2015）等。
"
主编推荐:
"（1）源自工程实践。基于作者40多年的集成电路研发和制造经验，注重封装工艺技术和实际解决方案，是工程应用的实用指南。
（3）聚焦核心技术。重点介绍TSV，应力传感器，微凸点，RDL，硅中介层，芯片/芯片键合，芯片/晶圆键合，MEMS、LED、CMOS图像传感器的3D集成，以及热管理、可靠性等关键技术问题。
（2）拓展国际视野。洞悉国际前沿技术方向和发展趋势，熟悉优选技术和主流产品，有助于快速跟踪、独立发展相关核心技术。
（4）适合作为教材。源自作者开设的相关课程，配套PPT课件，内容系统全面，知识脉络清晰，讲解重点突出，有助于培养专业技术人才。
（5）应用领域广泛。3D集成是集成电路技术发展的重要创新方向，是实现电子产品微型化、高性能、低成本、低功耗的重要手段。
"
内容简介:
随着集成电路应用多元化，人工智能、物联网、自动驾驶、5G网络、高性能计算等新兴产业对封装技术提出更高要求，优选封装向着集成、三维、高速、高频方向发展。本书全面讲解3D集成技术的近期进展和发展趋势，重点讨论3D集成技术的关键技术、主要工艺问题和可行解决方案。本书适合从事电子、光电子、MEMS等器件3D集成研究的工程技术人员、技术研发人员和科研人员阅读，也可以作为相关专业高年级本科生和研究生的教材。
目录:
Preface
1 3D Integration for Semiconductor IC Packaging
1.1 Introduction
1.2 3D Integration
1.3 3D IC Packaging
1.4 3D Si Integration
1.5 3D IC Integration
1.5.1 Hybrid Memory Cube
1.5.2 Wide I/O DRAM and Wide I/O 2
1.5.3 High Bandwidth Memory
1.5.4 Wide I/O Memory (or Logic-on-Logic)
1.5.5 Passive Interposer (2.5D IC Integration)
1.6 Supply Chains before the TSV Era
1.6.1 FEOL (Front-End-of-Line)
1.6.2 BEOL (Back-End-of-Line)
1.6.3 OSAT (Outsourced Semiconductor Assembly and Test)
1.7 Supply Chains for the TSV Era-Who Makes the TSV
1.7.1 TSVs Fabricated by the Via-First Process
1.7.2 TSVs Fabricated by the Via-Middle Process
1.7.3 TSVs Fabricated by the Via-Last (from the Fron
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