• 半导体测试技术原理与应用
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半导体测试技术原理与应用

36.21 28 九五品

仅1件

江苏南京
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作者刘新福 著

出版社冶金工业出版社

ISBN9787502441012

出版时间2007-01

版次1

装帧平装

开本其他

纸张胶版纸

页数304页

字数267千字

定价28元

货号L116-4补

上书时间2023-07-31

   商品详情   

品相描述:九五品

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