半导体测试技术原理与应用 新书
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青海西宁
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作者刘新福，杜占平，李为民编著
出版社冶金工业出版社
ISBN9787502441012
出版时间2007-01
版次1
印刷时间2007-01
装帧平装
开本32开
定价28元
上书时间2017-02-19
![政治经济学 [苏]列昂节夫](https://www0.kfzimg.com/sw/kfz-cos/kfzimg/4914983/cc1d0da84a7f9af1_s.jpg)
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- 本书以半导体测试技术及测试技术的改进为基础，介绍微区薄层电阻多种测试方案的实施与应用，共十一章。
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