《国外集成电路测试仪概况》
￥ 15 八五品
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北京朝阳
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作者上海科学技术情报研究所
出版社上海科学技术情报研究所
出版时间1973
装帧平装
货号20-1-2-57
上书时间2020-04-14
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- 品相描述：八五品
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