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《国外集成电路测试仪概况》

40 九五品

仅1件

重庆合川
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作者不详

出版社上海科学技术情报研究所

出版时间1973-06

印数7.8千册

装帧平装

开本32开

页数36页

字数26千字

货号大A7

上书时间2010-01-30

   商品详情   

品相描述:九五品
商品描述
印张:1.25
挺版 为避免定品争议,本书配有清晰的实物图片,请仔细看好,如有任何疑问请咨询店主,慎重下拍!

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