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作者张庆

出版社电子工业出版社

ISBN9787121489020

出版时间2025-01

装帧其他

定价108元

货号6540021

上书时间2025-01-25

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品相描述:全新
商品描述
【内容简介】 
本书是编著者结合多年的工程实践、培训经验及积累的资料,并借鉴国内外经典教材、文献和专业网站的文档等编著而成的。 本书全面介绍了SoC的主要构成和设计环节。本书依次介绍了时钟及产生电路、复位及其同步化、跨时钟域设计、低功耗设计、标准库、设计约束和逻辑综合、验证、DFT。本书注重基本概念、方法和技术的讨论,加强了对SoC设计方法学和设计规范的介绍。 本书可供从事SoC设计的专业工程师、从事芯片规划和项目管理的专业人员,以及相关专业的师生使用。

【目录】 
第1章 时钟及产生电路1
1.1 时钟和时钟树1
1.2 时钟源6
1.2.1  振荡器7
1.2.2  频率稳定度与精度10
1.2.3  石英晶体振荡器类型12
1.2.4  PLL13
1.3 时钟产生电路18
1.3.1  时钟分频电路19
1.3.2  时钟切换电路28
1.3.3  时钟门控电路31
小结33
第2章 复位及其同步化35
2.1 复位的分类35
2.1.1  同步复位35
2.1.2  异步复位37
2.2 异步复位信号的同步化41
2.3 复位网络43
小结47
第3章 跨时钟域设计48
3.1 跨时钟域设计的基本概念48
3.1.1  亚稳态49
3.1.2  跨时钟域问题51
3.2 同步器设计56
3.3 单比特信号的跨时钟域设计63
3.3.1  从快时钟域到慢时钟域的信号传输63
3.3.2  从慢时钟域到快时钟域的信号传输67
3.3.3  跨同步时钟域的信号传输67
3.4 多比特信号的跨时钟域设计68
3.4.1  多比特信号合并成单比特信号68
3.4.2  使能技术71
3.4.3  握手机制72
3.4.4  多周期路径法75
3.4.5  使用FIFO控制器77
小结84
第4章 低功耗技术85
4.1 CMOS功耗85
4.2 缩放技术89
4.2.1  频率缩放技术90
4.2.2  电压缩放技术90
4.3 门控技术96
4.3.1  时钟门控技术96
4.3.2  电源门控技术99
4.4 阈值电压控制技术103
4.4.1  多阈值CMOS技术103
4.4.2  变阈值CMOS技术107
4.4.3  动态阈值CMOS技术109
4.5 低功耗元件109
4.6 电源意图115
4.6.1  电源意图规范116
4.6.2  UPF的基本概念117
4.7 电源控制单元121
小结125
第5章 标准库127
5.1 MOS结构127
5.2 库131
5.2.1  逻辑单元库131
5.2.2  物理单元库133
5.2.3  库文件136
5.2.4  时序模型138
5.2.5  功耗模型144
5.2.6  噪声模型149
5.3 标准单元设计153
5.3.1  标准单元的布局153
5.3.2  标准单元的连接156
5.3.3  标准单元的供电网络159
5.4 I/O单元161
5.4.1  键合单元162
5.4.2  I/O单元类型166
5.4.3  I/O单元布局172
小结175
第6章 设计约束和逻辑综合176
6.1 时序路径与延迟176
6.1.1  时序路径176
6.1.2  时序路径延迟180
6.2 逻辑综合185
6.2.1  逻辑综合流程186
6.2.2  综合策略186
6.2.3  综合优化187
6.2.4  常用综合工具192
6.3 设计约束194
6.3.1  设计环境约束195
6.3.2  设计规则约束198
6.3.3  时序约束198
6.3.4  面积约束213
6.3.5  芯片级时序约束指南213
6.4 时序优化方法223
6.4.1  时序技术223
6.4.2  利用综合工具实现时序优化227
小结232
第7章 验证234
7.1 验证的基本概念235
7.1.1  验证、确认和测试235
7.1.2  仿真器实现算法236
7.1.3  验证度量237
7.1.4  硬件验证语言239
7.1.5  验证方法学239
7.2 验证策略240
7.2.1  验证层次240
7.2.2  验证手段243
7.2.3  验证方法245
7.3 功能验证248
7.3.1  仿真验证248
7.3.2  静态检查253
7.3.3  硬件辅助加速验证256
7.4 验证流程264
7.5 验证计划和平台267
7.5.1  验证计划267
7.5.2  验证平台270
7.6 性能验证273
7.7 能效验证274
7.7.1  低功耗仿真275
7.7.2  低功耗形式验证279
7.7.3  功耗预测与优化280
小结281
第8章 DFT282
8.1 DFT的基本概念282
8.1.1  测试方法和流程283
8.1.2  DFT规则284
8.2 测试的基本概念289
8.2.1  故障模型289
8.2.2  测试296
8.3 扫描测试技术307
8.3.1  固定型故障测试309
8.3.2  全速测试312
8.3.3  OCC控制器316
8.3.4  ATPG318
8.4 MBIST技术320
8.4.1  存储器的故障模型320
8.4.2  嵌入式存储器的可测试设计技术321
8.5 边界扫描测试技术326
8.5.1  JTAG总线327
8.5.2  边界扫描329
小结332
附录A 专业术语的中英文对照333
附录B 设计术语索引337

【作者简介】 
张庆,博士,早年于东南大学任教,后赴美留学并在Broadcom(博通)等国际著名公司从事SoC芯片研发工作,回国后任中兴微电子等公司的SoC团队和项目负责人。是最早将国外先进的SoC芯片设计理念引入国内的专家之一,在设计流程和方法学、芯片架构、芯片集成等领域,有着丰富的设计经验,以及流片和大规模量产经验,培养了一大批优秀的SoC设计和管理人才。

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