集成电路芯片测试技术

图书标准信息

• 作者 居水荣
• 出版社 西安电子科技大学出版社
• 出版时间 2021-03
• 版次 1
• ISBN 9787560659541
• 定价 35.00元
• 装帧 其他
• 开本 16开
• 纸张 胶版纸
• 页数 208页
• 字数 304千字

【内容简介】

本书是从微电子产业实际岗位需求出发，结合作者多年企业工作经验及一线教学经验编写而成的。书中详细介绍了目前业界常见的各类集成电路芯片的测试原理、测试方法以及测试程序的编写，具体包括各类组合/时序逻辑电路测试、ADC/DAC芯片测试、存储器/微控制器测试、集成运放/电源管理芯片测试等，同时还介绍了晶圆探针台、测试机的使用。
  本书可作为高职院校微电子技术专业的核心课程教材，亦可作为全国职业院校技能大赛“集成电路开发及应用”赛项的备赛训练参考教材。

【目录】

章引言1

1.1集成电路测试在产业链中的地位1

1.2集成电路测试及其应用3

1.2.1集成电路测试3

1.2.2集成电路测试的应用3

1.3集成电路测试分类4

1.4"集成电路开发及应用"赛项简介4

第2章集成电路测试技术6

2.1几个集成电路测试的重要概念6

2.1.1故障及其诊断6

2.1.2测试规范6

2.1.3测试方式和判断7

2.1.4测试工艺8

2.2集成电路的静态和动态测试10

2.2.1静态测试10

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