【现货】宇航用元器件故障分析和处理案例集

图书标准信息

• 作者 张延伟 著
• 出版社 中国科学技术出版社
• 出版时间 2014-12
• 版次 1
• ISBN 9787504667465
• 定价 38.00元
• 装帧 平装

【内容简介】

本书主要对近年来航天器研制过程出现的与元器件有关的质量问题案例进行统计和分析，根据案例的性质将这些案例分为了元器件的选择、应用质量问题和固有质量问题三个大类，并对每个案例分别从问题发生的背景、问题产生的原因和机理、采取的措施和问题的启示四个方面进行了阐述。本书涉及的内容广泛、结构清晰，案例和经验均来自于航天器研制实践和航天器用元器件质量保证实践，具有很强的指导意义，主要面向从事航天器研制、电子产品开发、元器件设计和制造、元器件测试分析等工作和相关质量管理工作的读者。