集成电路芯片测试技术
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作者居水荣
出版社西安电子科技大学出版社
ISBN9787560659541
出版时间2021-03
装帧平装
开本16开
定价35元
货号29237035
上书时间2025-01-05
商品详情
- 品相描述：全新
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导语摘要
本书是从微电子产业实际岗位需求出发，结合作者多年企业工作经验及一线教学经验编写而成的。书中详细介绍了目前业界常见的各类集成电路芯片的测试原理、测试方法以及测试程序的编写，具体包括各类组合/时序逻辑电路测试、ADC/DAC芯片测试、存储器/微控制器测试、集成运放/电源管理芯片测试等，同时还介绍了晶圆探针台、测试机的使用。
本书可作为高职院校微电子技术专业的核心课程教材，亦可作为全国职业院校技能大赛“集成电路开发及应用”赛项的备赛训练参考教材。
作者简介
目录
章引言1
1.1集成电路测试在产业链中的地位1
1.2集成电路测试原理及其应用3
1.2.1集成电路测试原理3
1.2.2集成电路测试的应用3
1.3集成电路测试分类4
1.4"集成电路开发及应用"赛项简介4
第2章集成电路测试技术6
2.1几个集成电路测试的重要概念6
2.1.1故障及其诊断6
2.1.2测试规范6
2.1.3测试方式和判断7
2.1.4测试工艺8
2.2集成电路的静态和动态测试10
2.2.1静态测试10
……
内容摘要本书是从微电子产业实际岗位需求出发，结合作者多年企业工作经验及一线教学经验编写而成的。书中详细介绍了目前业界常见的各类集成电路芯片的测试原理、测试方法以及测试程序的编写，具体包括各类组合/时序逻辑电路测试、ADC/DAC芯片测试、存储器/微控制器测试、集成运放/电源管理芯片测试等，同时还介绍了晶圆探针台、测试机的使用。
本书可作为高职院校微电子技术专业的核心课程教材，亦可作为全国职业院校技能大赛“集成电路开发及应用”赛项的备赛训练参考教材。
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