集成电路的电磁兼容—低发射、低敏感度技术
￥ 649 ￥ 49 九五品
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上海黄浦
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作者（法）齐亚 著,王洪博 等译
出版社电子工业出版社
ISBN9787121105791
出版时间2010-04
版次1
装帧平装
开本16开
纸张胶版纸
页数280页
字数99999千字
定价49元
上书时间2024-09-22
商品详情
- 品相描述：九五品
- 商品描述
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基本信息
书名:集成电路的电磁兼容—低发射、低敏感度技术
定价：49元
作者:（法）齐亚 著,王洪博 等译
出版社：电子工业出版社
出版日期：2010-04-01
ISBN：9787121105791
字数：494000
页码：280
版次：1
装帧：平装
开本：16开
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内容提要
本书的宗旨是综述集成电路的电磁兼容现象，介绍的EMC测量方法和EMC建模方法。 本书给出了集成电路辐射和敏感度的历史与现状、基本概念及原理，并通过各种案例给出了详细的建模方法、测量方法，以及一些企业和科研实验室的仿真与测量结果，有助于集成电路和电子系统设计人员减少IC和电子系统的寄生发射，以及对射频干扰的敏感度。 本书是在集成电路的EMC方面的专门的信息汇总，希望能够为广大集成电路电磁兼容的专家、学者、设计工程师、电子工程学爱好者提供帮助。
目录
章 集成电路电磁兼容的基本概念 1.集成电路的电磁兼容 2.集成电路的电磁兼容测量基础 3.IC的EMC模型 4.总结 5.参考文献第2章 历史与现状 1.早期的研究工作 2.1990—1995年间ICS在集成电路EMC方面的研究 3.集成电路的敏感度（从1995年开始） 4.集成电路的寄生发射 5.集成电路EMC的标准化 6.特别事件和出版物 7.IC的发展历程 8.封装蓝图 9.EMC问题 10.总结 11.参考文献 12.参考标准第3章 基础和理论——EMC现象的数学背景 1.基本电磁场理论 2.傅里叶分析 3.传输线 4.RLC表达式 5.S参数 6.总结 7.参考文献第4章 测量方法——集成电路的发射和敏感度 1.简介 2.TEM/GTEM小室方法 3.近场扫描方法 4.1/150 传导法 5.工作台法拉第笼法 6.大电流注入法（BCI） 7.直接功率注入法（DPI） 8.集成电路的瞬态抗扰度 9.电波暗室内的发射和抗扰度测试 10.片上测量 11.集成电路的EMC测试计划 12.讨论和总结 13.参考文献第5章 EMC建模——集成电路中骚扰发射和抗扰度现象的建模概览第6章 案例研究——EMC测试芯片、低发射的微控制器第7章 准则——用于改进EMC的规程附录A 有用的相关表格附录B 术语集——用于集成电路电磁兼容领域的缩写
作者介绍
序言
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【封面】
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