微纳米MOS器件可靠性与失效机理
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￥ 370 ￥ 78 八五品
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广东东莞
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作者郝跃、刘红侠
出版社科学出版社
ISBN9787030205865
出版时间2008-03
版次1
印刷时间2008-03
装帧精装
开本16开
页数446页
定价78元
货号6538843617
上书时间2024-06-29
商品详情
- 品相描述：八五品
- 商品描述
-
名称：微纳米MOS器件可靠性与失效机理
作者：郝跃、刘红侠
品相：八五品
出版时间：2008-03
装订：精装
ISBN：9787030205865
开本：16开
出版社：科学出版社
版次：1
印刷时间：2008-03
印次：1
页数：446页
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