Tanner集成电路设计技术与技巧/周玉梅
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作者周玉梅 著
出版社西安电子科技大学出版社
ISBN9787560658223
出版时间2020-09
装帧平装
开本16开
定价48元
货号1202199571
上书时间2024-12-03
商品详情
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目录
第一章 S-Edit 11.1 导论 11.1.1 符号说明 11.1.2 安装 11.1.3 用户手册 21.2 启动S-Edit 21.2.1 加载设计 21.2.2 设计可视化 31.3 多视图的设计 41.3.1 视图类型 41.3.2 确定当前显示视图类型 61.3.3 符号视图元素 71.3.4 原理图元素 81.3.5 Verilog-A视图基础 121.3.6 文本视图的一般信息 121.3.7 SPICE视图基础 131.3.8 Verilog-AMS视图基础 131.3.9 视图类型和网表 141.3.10 将视图类型赋给网表 151.4 评估属性 161.4.1 属性表达式 161.4.2 显示端口属性 171.5 创建设计 181.5.1 保存设计 181.5.2 创建设计 191.5.3 创建原理图 211.5.4 创建符号 251.5.5 创建总线和阵列 271.6 检查设计 301.6.1 运行检查设计 301.6.2 突出显示走线 311.7 回调 331.8 自定义S-Edit设置 34本章练习题 35第二章 T-Spice 372.1 电路仿真 372.1.1 Waveform Viewer 392.1.2 波形计算器 422.1.3 抓取电压、电流及电荷 452.1.4 工艺角仿真 672.1.5 仿真检查点和重新启用 832.2 在原理图上查看电压、电流和电荷 1082.3 混合信号仿真 1102.3.1 概述 1102.3.2 设计实例 1112.3.3 混合信号仿真装置 1132.3.4 运行混合信号仿真 115本章练习题 116第三章 L-Edit 1183.1 使用L-Edit 1183.1.1 特点及内容介绍 1183.1.2 打开设计文件 1183.1.3 L-Edit用户界面介绍 1193.1.4 缩放和平移操作 1203.1.5 浏览设计文件 1203.1.6 选择操作 1223.1.7 绘图和编辑操作 1253.1.8 临时标尺 1283.1.9 查看版图 1293.1.10 例化单元 1313.1.11 T-Cells 1323.2 L-Edit原理图驱动的版图设计入门 1333.2.1 功能及内容介绍 1333.2.2 打开设计文件 1343.2.3 设置SDL的单元模块 1353.2.4 利用SDL导入网表 1363.2.5 利用飞线放置器件 1383.2.6 在手动放置的线上标记几何图形 1393.2.7 设置自动布线 1403.2.8 自动布线 1423.2.9 删除布线 1443.2.10 导入工程变更单 1443.3 T-Cell创建器 1453.3.1 利用T-Cell创建器创建MOSFET 1453.3.2 缩放和定义参数 1453.3.3 选择图层 1473.3.4 定义条件域 1483.3.5 选择T-Cell对象 1483.3.6 利用T-Cell 创建器创建电阻 1483.4 导入/导出数据文件 1493.4.1 导出GDSII文件 1493.4.2 导入GDSII文件 1493.5 MEMS版图设计 1523.5.1 布尔运算 1523.5.2 图层缩放 1533.5.3 曲线图形 1543.5.4 导出DXF文件 1563.5.5 导入DXF文件 156本章练习题 157第四章 Tanner Designer 1614.1 安装与准备 1614.2 生成仿真结果 1624.2.1 运行环形压控振荡器仿真 1624.2.2 运行OpAmp仿真 1654.3 展示仿真结果 1654.3.1 仿真状态结果的简单展示 1654.3.2 创建仿真结果工作簿 1714.3.3 更新工作簿 1754.3.4 按目录分组仿真测量 1794.3.5 图形化仿真扫描数据 1844.3.6 包含波形图表和测量 1864.3.7 包括原理图编辑器和其他图片 1904.3.8 包含其他仿真测量 1904.4 仿真窗口及菜单功能 1924.5 工作簿示例 1964.5.1 在工作簿示例中更新数据(可选的) 1974.5.2 简单的最小值/最大值分析 1974.5.3 最小值/最大值的报告 1984.5.4 数据扫描图表 1994.5.5 绘制扫描信息的子集 1994.5.6 3D图形 2004.5.7 蒙特卡洛分析 2014.5.8 基于行的工作表 2014.5.9 仿真总结报告 2034.5.10 描述性的工作表 2034.5.11 结果工作表 2034.5.12 查找工作表中的典型测量查询 2044.5.13 扩展查询工作表中更复杂的测量和数据库查询 2064.5.14 图片 208本章练习题 209第五章 MEMS Pro 2105.1 MEMS Pro简介 2105.1.1 创建原理图 2105.1.2 波形抓取 2145.1.3 计算谐振频率 2175.1.4 生成版图 2175.1.5 查看3D模型 2225.1.6 绘图工具 2255.2 光学库简介 2275.2.1 原理 2285.2.2 生成原理图 2285.2.3 编写仿真命令 2325.2.4 运行仿真和查看结果 2335.3 统计分析 2345.3.1 工艺参数 2345.3.2 谐振器 2345.3.3 交流分析 2355.3.4 开始仿真 2365.4 设计规则检查 2375.4.1 DRC设置 2375.4.2 设计规则类型 2385.4.3 DRC介绍 2405.4.4 设置设计规则 2405.4.5 添加设计规则 2415.4.6 运行DRC 2425.5 优化过程 2445.5.1 Tanner设置优化 2445.5.2 检查输出 2505.6 验证过程 2515.6.1 添加连接端口 2515.6.2 提取版图 2535.6.3 提取LVS的原理图 2545.6.4 网表比较 2555.7 外部模型生成器 2565.7.1 创建模型 2565.7.2 生成模型 2585.7.3 在原理图中例化模型 2595.7.4 电路中例化模型 2605.7.5 仿真电路 2615.8 MEMS建模过程 2615.8.1 可调滤波器 2625.8.2 生成3D模型 2625.8.3 ANSYS设置 2645.8.4 载入3D模型 2655.8.5 载入宏单元 2655.8.6 MEMSModeler设置 2665.9 边界条件 2755.9.1 边界条件的特点 2755.9.2 应用边界条件 2765.9.3 多物理域的问题 2765.9.4 打开版图 2775.9.5 边界条件设置 2775.9.6 额外的BC设置 2785.9.7 设置边界条件 2785.9.8 创建电压BC标签 2795.9.9 创建温度BC标签 2805.9.10 创建结构BC标签 2815.9.11 为第二个锚创建BC标签 2825.9.12 设置材料数据库 2835.9.13 在MEMS仿真中使用正确的单位 2855.9.14 创建3D模型 2865.9.15 查看边界条件 2865.9.16 准备3D模型 2875.9.17 导出3D模型 2875.9.18 打开ANSYS 2885.9.19 载入3D模型 2885.9.20 元素类型 2885.9.21 网格化 2895.9.22 检查边界条件 2905.9.23 得到结果 2905.9.24 图形化温度结果 2915.9.25 绘制转换结果 2915.9.26 图形化电压结果 2925.9.27 图形化位移结果 2935.9.28 图形化压力结果 2935.9.29 动画位移结果 294本章练习题 294
内容摘要
本书主要介绍了Tanner Tools集成电路设计工具的使用方法，包括S-Edit、T-Spice、L-Edit、Tanner Designer、MEMS Pro五章。书中结合具体案例，对功能定义、电路设计、版图设计、物理验证、仿真验证等环节进行了详细阐述，并提供详细的操作步骤。特别是针对在微电子技术(半导体制造技术)基础上发展起来的，关系到国家科技发展、经济繁荣和国防安全的关键技术MEMS器件的设计，进行了系统的介绍，为读者提供了高效、完整的学习教程。本书可以作为高等院校微电子专业、半导体专业、电路设计专业的教材，同时还可以作为从事集成电路研究、设计、开发、生产和应用工作的科技人员以及从事微电子、微光学、微机械等微系统版图设计与其他微细加工技术领域工作的科技人员的参考书。
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