X射线多晶衍射数据RIETVELD精修及GSAS软件入门
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作者郑振环陈玉龙
出版社中国建材工业出版社
ISBN9787516040607
出版时间2024-03
装帧平装
开本16开
定价39.8元
货号1203230835
上书时间2024-11-24
商品详情
- 品相描述：全新
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目录
目 录
1 Rietveld法结构精修
1.1 Rietveld法结构精修发展概况
1.2 Rietveld法基本原理
1.3 参数修正顺序与结果判据
1.3.1 参数修正的顺序
1.3.2 精修的数值判据
1.3.3 精修的图示判断
1.4 精修过程出现的问题和对策
1.5 Rietveld法结构精修的应用
1.5.1 修正晶体结构
1.5.2 相变研究和点阵常数测定
1.5.3 物相定量分析
1.5.4 晶粒尺寸和微应变测定
2 EXPGUI-GSAS软件安装与界面介绍
2.1 GSAS软件简介
2.2 EXPGUI-GSAS软件的安装
2.3 EXPGUI-GSAS软件界面介绍
2.3.1 菜单栏
2.3.2 选项卡界面
2.3.3 EXPGUI帮助内容
3 EXPGUI-GSAS结构精修起步
3.1 精修前的准备工作
3.1.1 衍射数据的测定
3.1.2 衍射数据的转换
3.1.3 初始结构的获取
3.2 EXPGUI精修简单示例
3.2.1 生成EXP文件
3.2.2 精修过程
3.2.3 常见问题
3.3 精修结果提取与绘图
3.3.1 精修结果提取
3.3.2 精修图谱绘图
3.4 空间群设定问题及图谱精修范围设定
3.4.1 空间群设定问题及解决
3.4.2 设定精修角度范围
3.5 定制EXPGUI
3.5.1 设定打开EXPGUI后默认文件夹位置
3.5.2 定制EXPGUI的快捷按钮栏
4 EXPGUI-GSAS提高练习
4.1 仪器参数文件的建立
4.1.1 基本知识
4.1.2 操作过程
4.2 物相（含非晶）定量分析
4.2.1 基本原理
4.2.2 衍射数据测试
4.2.3 精修过程
4.3 Le Bail法拟合及占位修正(约束的使用)
4.3.1 问题描述
4.3.2 精修过程
4.4 计算晶粒大小及微观应变
4.4.1 基本原理
4.4.2 具体步骤
4.4.3 晶粒尺寸和微观应变计算示例
4.5 利用已有EXP进行单个数据及批量精修
4.5.1 利用已有EXP进行单个数据精修
4.5.2 批量精修
参考文献
内容摘要
Rietveld 法全谱拟合已成为Ｘ射线多晶衍射修正晶体结构的重要方法。本书共 为四章，侧重从操作示例来介绍Rietveld法的原理和精修基本过程。
第一章简要介 绍了Rietveld法结构精修的发展概况和基本原理。第二章主要介绍EXPGUI-GSAS软件安装和界面。第三章简要介绍Rietveld法Ｘ射
线多晶衍射数据的实验技术，以 简单的例子演示EXPGUI-GSAS软件Rietveld精修的基本过程、精修结果的提取以 及图谱的绘图，并给出了空间群
设定问题的解决、精修角度范围设定和定制EX-PGUI 等内容。第四章给出了五个提高练习示例，包括仪器参数文件的建立、含非 晶混合物的定量分
析、Le Bail法拟合及占位修正、峰形参数计算晶粒尺寸和微观 应变以及批量精修等。 本书具有很强的实用性，可以作为材料、化学以及地质等领域
使用 Rietveld法 进行结构精修的研究人员的入门参考书，也可以作为本科生、研究生教学的实验教材。
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