半导体器件失效分析
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福建福州
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作者邓永孝
出版社宇航出版社
ISBN9787800343636
出版时间1991
版次1
印刷时间1991-04
印次1
印数2.4千册
装帧平装
开本32开
字数276千字
定价8.1元
货号5-24
上书时间2024-08-31
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