半导体器件可靠性与失效分析
正版现货无笔记，无划线
￥ 95 九品
仅1件
北京昌平
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作者卢其庆，张安康
出版社江苏科学技术出版社
出版时间1980
装帧平装
货号A20
上书时间2024-12-04
商品详情
- 品相描述：九品
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