半导体器件可靠性与失效分析
正版现货，扉页有购书的日期笔记，后书皮有点污渍，书脊有磨损，详情看图
￥ 75 八五品
仅1件
北京昌平
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作者陆其庆，张安康
出版社江苏科学技术出版社
出版时间1980
装帧平装
货号A16
上书时间2024-12-04
商品详情
- 品相描述：八五品
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