微电路国家标准汇编：基础及测试方法卷

图书标准信息

• 作者 中国标准出版社第四编辑室 编
• 出版社 中国标准出版社
• 出版时间 2008-02
• 版次 1
• ISBN 9787506648011
• 定价 190.00元
• 装帧 平装
• 开本 16开
• 纸张 胶版纸
• 页数 587页
• 字数 1128千字

【内容简介】

　　为便于广大读者查阅和使用微电路国家标准，我社编辑出版《微电路国家标准汇编》，汇编收入截至2007年底前发布实施的国家标准，分两卷出版。《微电路国家标准汇编：基础及测试方法卷》共收集有关国家标准23项。本汇编在使用时应读者注意以下两点：收入标准的出版年代不尽相同，对于其中的量和单位不统一之处及各标准格式不一致之处未做改动。本汇编收集的国家标准的属性已在本目录上标明（GB或GB/T），标准年号用四拉数字表示。鉴于部分标准是在清理整顿前出版的，现尚未修订，故正文部分保留原样。

【目录】

基础标准

　GB／T 2900.66－2004  电工术语半导体器件和集成电路

　GB／T 3430－1989半导体集成电路型号命名方法

　GB／T 3431.2－1986半导体集成电路文字符号  引出端功能符号

　GB／T 4728.12－1996  电气简图用图形符号  第12部分：二进制逻辑元件

　GB／T 7092－1993半导体集成电路外形尺寸

　GB／T 9178－1988  集成电路术语

　GB／T 12842－1991  膜集成电路和混合膜集成电路术语

　GB／T 14113－1993半导体集成电路封装术语

　GB／T 15138－1994  膜集成电路和混合集成电路外形尺寸

　GB／T 20296－2006  集成电路记忆法与符号

测试方法标准

　GB／T 4377－1996半导体集成电路  电压调整器测试方法的基本原理

　GB／T 6798－1996  半导体集成电路  电压比较器测试方法的基本原理

　GB／T 14028－1992半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理

　GB／T 14029－1992半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理

　GB／T 14030－1992  半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

　GB／T 14031－1992半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理

　GB／T 14032－1992半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理

　GB／T 14114－1993  半导体集成电路电压／频率和频率／电压转换器测试方法的基本原理

　GB／T 14115－1993  半导体集成电路采样／保持放大器测试方法的基本原理

　GB／T 14862－1993半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法

　GB／T 16526－1996封装引线间电容和引线负载电容测试方法

　GB／T 19248－2003封装引线电阻测试方法

　GB／T 19403.1－2003半导体器件集成电路第11部分：第1篇：半导体集成电路内部目检（不包括混合电路）