【假一罚四】模拟/混合信号集成电路抗辐照技术与实践
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浙江嘉兴
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作者黄晓宗 ... 等编著
出版社哈尔滨工业大学出版社
ISBN9787576705454
出版时间2023-07
装帧精装
开本其他
定价108元
货号4520930
上书时间2024-12-18
商品详情
- 品相描述：全新
- 商品描述
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目录
本书系统地介绍了辐射对电子系统的损伤机理、加固技术和实践、辐射测试技术等研究内容, 并阐述了抗辐射加固技术的发展趋势。第1章和第2章介绍了辐射环境与基本辐射效应、半导体器件的辐射效应损伤机理, 并介绍了SiGe HBT BiCMOS工艺的辐射特性; 第3-5章介绍了从工艺、版图和电路等方面进行抗辐射加固的技术; 第6章针对模拟/混合信号集成电路加固技术的案例进行了研究; 第7章和第8章介绍了模拟/混合信号集成电路辐射测试技术和抗辐射加固发展趋势。
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