【假一罚四】数字集成电路验证从入门到精通
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广东东莞
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作者丛国涛, 李鹤楠, 王森编著
出版社化学工业出版社
ISBN9787122461841
出版时间2024-10
装帧平装
开本其他
定价89元
货号4711973
上书时间2024-11-26
商品详情
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作者简介
丛国涛：1、松下电器软件开发（大连）有限公司从事集成电路设计与验证工作8年，开发过数码相机芯片、数字电视芯片、车载摄像头处理芯片等10+颗芯片，并且具有带领10人左右团队进行集成电路开发的经验。 2、大连东软信息学院集成电路设计与集成电路系统专业担任专业课教师，已执教5年，讲授《数字集成电路验证》《数字系统设计实践》等多门集成电路专业课程。作为课程负责人的《数字集成电路验证》获得辽宁省虚拟仿真实验项目（2020年），获得校级“专创融合”课程（2020年），获得校级线上线下混合式课程（2021年）。 3、参加《全国电子信息类专业课程实验案例设计竞赛》等教学竞赛，获得全国三等奖、辽宁省一等奖、二等奖、三等奖各1次。 4、参与集成电路设计与集成系统专业的辽宁省本科专业建设，参与辽宁省教育厅的教改项目建设《产学研融合背景下集成电路创新创业人才培养模式的探索与实践》。 5、作为负责学生实践工作的系副主任，组织学生参加学科竞赛活动，集成系学生在《大学生集成电路创新创业大赛》等重要赛事多次获得国家一等奖等奖项，学校获得东北赛区优秀组织奖，本人获得辽宁省组织工作先进个人。大创指导教师1次，省级大创指导教师3次，企业横向项目10项，发明专利1项（2021年），软件著作权1项（2018年），参与发表论文期刊8篇。
目录
本书基于企业实际需求, 理论结合实例, 由易到难讲解了常用验证方法、流程规范和UVM高级验证方法。主要内容包括: 数字集成电路验证技术的发展、数字集成电路验证基础、数字集成电路验证的常用Verilog编程语法、被测电路功能点Case抽取、断言、带有约束条件的随机激励、覆盖率、结果自动对比、UVM验证、验证EDA工具、实例解析、综合项目实例。
内容摘要
本书基于企业实际需求，理论结合实例，由易到难讲解了数字集成电路常用验证方法、流程规范和UVM高级验证方法。
主要内容包括：数字集成电路验证技术的发展、数字集成电路验证基础、数字集成电路验证的常用Verilog编程语法、被测电路功能点Case抽取、断言、带有约束条件的随机激励、覆盖率、结果自动对比、UVM验证、仿真验证EDA工具、实例解析、综合项目实例。
本书可供集成电路验证的入门级读者，以及集成电路、芯片、半导体及相关行业的工程技术人员使用，还可作为教材供高校相关专业师生学习参考。
主编推荐
1、基于企业中的一些常用验证方法和流程规范，让初学者了解验证的基础概念和方法。例如：验证流程以及验证环境框架介绍，被测电路的功能点抽取方法，随机激励方法，结果自动对比方法，时序自动检查方法等。
2、从基础验证方法到UVM验证方法，从理论方法到实例解析，进一步阐述数字集成电路验证的进阶知识。
3、先通过问题引导出需要使用的验证方法，然后讲解该验证方法的理论知识和应用场景，再通过实例进行应用训练。
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