材料科学研究与测试方法（第5版）

图书标准信息

• 作者 朱和国
• 出版社 东南大学出版社
• 出版时间 2023-01
• 版次 1
• ISBN 9787576604764
• 定价 86.00元
• 装帧 其他
• 开本 16开
• 纸张 胶版纸
• 页数 411页
• 字数 678千字

【内容简介】

本书首先介绍了晶体学基础知识，然后系统介绍了X射线的物理基础、X射线衍射的方向与强度、多晶体X射线衍射分析的方法、X射线衍射仪及其在物相鉴定、宏微观应力与晶粒尺寸的测定、多晶体的织构分析、小角x射线散射、薄膜应力、厚度测定、X射线成像分析等方面的应用；全面介绍了电子衍射的物理基础、衍射成像、运动学衬度理论、高分辨透射电子显微技术及透射电子显微镜、扫描电镜、扫描透射电镜、电子探针、原子探针、电子背散射衍和中子衍射的基本原理、特点及应用，及AES、XPS、XRF、STM、AFM、LEED等常用表面分析技术和TG、DTA、DSC等常用热分析技术；最后简要介绍了红外光谱、拉曼光谱和ICP等。书中研究和测试的材料包括金属材料、无机非金属材料、高分子材料、非晶态材料、金属间化合物、复合材料等。对每章内容作了提纲式的小结，并附有适量的思考题。书中采用了一些作者尚未发表的图片和曲线，同时在实例分析中还注重引入了一些当前材料界最新的研究成果。本书可作为材料科学与工程学科本科生的学习用书，也可供相关学科与专业的研究生、教师和科技工作者使用。

【目录】

本书首先介绍了晶体学基础知识, 然后系统介绍了X射线的物理基础、X射线衍射的方向与强度、多晶体X射线衍射分析的方法、X射线衍射仪及其在物相鉴定、宏微观应力与晶粒尺寸的测定、多晶体的织构分析、小角x射线散射、薄膜应力、厚度测定、X射线成像分析等方面的应用; 全面介绍了电子衍射的物理基础、衍射成像、运动学衬度理论、高分辨透射电子显微技术及透射电子显微镜、扫描电镜、扫描透射电镜、电子探针、原子探针、电子背散射衍和中子衍射的基本原理、特点及应用, 及AES、XPS、XRF、STM、AFM、LEED等常用表面分析技术和TG、DTA、DSC等常用热分析技术; 最后简要介绍了红外光谱、拉曼光谱和ICP等。

内容摘要
本书首先介绍了晶体学基础知识，然后系统介绍了X射线的物理基础、X射线衍射的方向与强度、多晶体X射线衍射分析的方法、X射线衍射仪及其在物相鉴定、宏微观应力与晶粒尺寸的测定、多晶体的织构分析、小角x射线散射、薄膜应力、厚度测定、X射线成像分析等方面的应用；全面介绍了电子衍射的物理基础、衍射成像、运动学衬度理论、高分辨透射电子显微技术及透射电子显微镜、扫描电镜、扫描透射电镜、电子探针、原子探针、电子背散射衍和中子衍射的基本原理、特点及应用，及AES、XPS、XRF、STM、AFM、LEED等常用表面分析技术和TG、DTA、DSC等常用热分析技术；最后简要介绍了红外光谱、拉曼光谱和ICP等。书中研究和测试的材料包括金属材料、无机非金属材料、高分子材料、非晶态材料、金属间化合物、复合材料等。对每章内容作了提纲式的小结，并附有适量的思考题。书中采用了一些作者尚未发表的图片和曲线，同时在实例分析中还注重引入了一些当前材料界近期新的研究成果。本书可作为材料科学与工程学科本科生的学习用书，也可供相关学科与专业的研究生、教师和科技工作者使用。