• 半导体器件及电路的可靠性与退化
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半导体器件及电路的可靠性与退化

2024000162350

93.91 八五品

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广东东莞
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作者英 M.J.豪斯著

出版社科学出版社

ISBN9787030011640

出版时间1989-10

装帧平装

货号2024000162350

上书时间2024-12-18

忻源星

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品相描述:八五品

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