• 系统芯片(SoC)验证方法与技术
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系统芯片(SoC)验证方法与技术

55 八五品

库存2件

辽宁沈阳
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作者[美]Prakash Rashinkar、Peter Paterson、Leena Singh 著;孙海平、丁健 译

出版社电子工业出版社

出版时间2005

装帧平装

上书时间2024-09-12

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品相描述:八五品
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图书标准信息
  • 作者 [美]Prakash Rashinkar、Peter Paterson、Leena Singh 著;孙海平、丁健 译
  • 出版社 电子工业出版社
  • 出版时间 2005
  • ISBN 9787121005893
  • 定价 29.00元
  • 装帧 平装
  • 开本 26cm
  • 页数 263页
  • 正文语种 简体中文
  • 原著语种 English
【内容简介】
本书从最高层次的系统级验证直至最终的物理实现和签付,详细介绍了各种设计抽象级别和各阶段所涉及到的各种验证方法及工具。
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