微纳米MOS器件可靠性与失效机理

30 3.8折 78 八五品

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北京昌平

作者郝跃、刘红侠著

出版社科学出版社

ISBN9787030205865

出版时间2008-03

版次1

装帧精装

开本16开

纸张胶版纸

页数446页

字数546千字

定价78元

货号C

上书时间2026-10-08

商品详情

品相描述：八五品

商品描述: 书内开裂

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