最新集成电路测试技术
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作者高成 著
出版社国防工业出版社
ISBN9787118060713
出版时间2009-02
版次1
印刷时间2009-02
印次1
印数4千册
装帧平装
开本16开
纸张胶版纸
页数290页
字数430千字
定价35元
货号MM1
上书时间2024-05-02
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