高速数字接口与光电测试
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作者李凯
出版社清华大学出版社
ISBN9787302590408
出版时间2022-01
版次1
装帧其他
开本16开
纸张胶版纸
页数425页
字数665千字
定价178元
货号di
上书时间2024-12-22
商品详情
- 品相描述：全新
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