技术滥出的机制、测度与我国创新模式优化策略
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作者魏守华 著
出版社经济科学出版社
ISBN9787514191820
出版时间2018-05
版次1
装帧平装
开本16开
纸张胶版纸
页数331页
字数390千字
定价68元
货号xsy
上书时间2024-12-15
商品详情
- 品相描述：全新
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