正版 集成电路测试基础 佛山市联动科技股份有限公司 9787121438028
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作者佛山市联动科技股份有限公司
出版社电子工业出版社
ISBN9787121438028
出版时间2022-07
装帧平装
开本16开
定价100元
货号DX9787121438028
上书时间2024-12-27
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作者简介
2013年起，任职于佛山市联动科技股份有限公司，从事自动化测试设备的研发管理、测试验证以及应用方案开发的技术支持工作，对自动化测试设备本身有深入的研究，同时有丰富的集成电路测试工程师的培训经验，除了对本公司人员进行培训外，还对国内外的封测企业的客户工程师进行过多次培训。
目录
第1章关于集成电路测试1
1.1集成电路测试相关书籍和标准推荐1
1.2准备工作2
1.3一些小约定3
1.4英文缩写3
第2章从理想电路到实际电路7
2.1实际的导线7
2.1.1开尔文连接7
2.1.2屏蔽与驱动保护11
2.1.3磁环与磁珠13
2.2实际的电阻13
2.2.1电阻的作用13
2.2.2实际电阻的分压电路14
2.3实际的电容15
2.3.1电容的参数以及影响15
2.3.2实际电路中的电容15
2.3.3电压驱动电阻电容（RC）电路的一阶系统响应18
2.4实际的电感19
2.4.1电感的作用19
2.4.2实际电路中的电感20
2.5驱动与负载20
2.5.1驱动能力的20
2.5.2负载效应的影响22
2.6继电器和电子开关23
第3章电源与测量的基本电路26
3.1V/I源的基本结构26
3.1.1整体结构26
3.1.2电压输出模式27
3.1.3电流输出模式30
3.1.4波形发生器模式32
3.1.5V/I源的测量35
3.2V/I源的35
3.2.1输出稳定时间35
3.2.2反馈响应时间35
3.2.3高度模型化的V/I源36
3.3ATE的测量电路39
3.3.1电压测量39
3.3.2时间测量40
3.3.3扫描测量40
3.4数字测试源40
3.4.1电源供电电路40
3.4.2直流参数测量电路41
3.4.3驱动输出电路41
3.4.4比较输入电路42
3.4.5有源负载电路43
第4章测试程序设计要求45
4.1测试程序的特殊要求45
4.2程序设计的风格46
4.3程序设计的防误方法46
第5章误差与校准48
5.1基于误差的计算48
5.1.1基于已有的元件参数计算电路误差48
5.1.2基于规格允许的误差选择元件参数49
5.2线性校准的原理与方法49
5.3非线性校准与数据拟合53
第6章模拟信号调理基础57
6.1电压放大与衰减电路57
6.1.1电压放大电路57
6.1.2电压衰减电路58
6.2电压与电流转换电路58
6.2.1电流电压转换58
6.2.2电压电流转换59
6.2.3测试三极管的VBE60
6.3比较电路63
6.3.1单限比较器63
6.3.2窗口比较器63
6.3.3滞回比较器63
6.4特性提取电路65
6.4.1峰值提取65
6.4.2滤波电路66
6.4.3采样保持67
6.4.4边沿检测67
6.4.5脉宽检测68
6.5信号修调电路70
6.5.1钳位限幅70
6.5.2电平调整70
6.5.3隔离转换72
6.5.4分频电路73
6.6相位补偿基础73
6.6.1极点和零点73
6.6.2相位补偿理论基础79
6.6.3运放环路增益准确测量的两种方法86
6.6.4相位补偿的灵活运用93
第7章数字信号处理基础97
7.1移动平均滤波97
7.2卷积与FIR滤波器100
7.2.1卷积100
7.2.2FIR滤波器103
7.3傅里叶变换115
7.3.1离散傅里叶变换和窗函数滤波器的频谱115
7.3.2窗函数解决频谱泄漏的应用120
7.3.3快速傅里叶变换120
7.3.4THD和SNR等频域参数的计算126
7.3.5FFT计算的注意事项130
第8章测试方法基础133
8.1开短路（Open-Short）测试133
8.2接触（Contact）测试/开尔文（Kelvin）测试134
8.3LDO的测试135
8.3.1参考电压136
8.3.2线性调整率137
8.3.3负载调整率138
8.3.4输出电流（Iadj）测试138
8.3.5最小负载电流139
8.3.6纹波抑制比140
8.3.7输出短路电流141
8.4运算放大器测试142
8.4.1运放的测试电路142
8.4.2运放VIO参数的测试143
8.4.3运放的CMRR参数测试145
8.4.4运放的输入偏置电流测试148
8.4.5运放的其他参数151
8.5数字通信测试151
8.5.1数字芯片的文档151
8.5.2数字IO口的DC参数152
8.5.3数字IO口的AC参数152
8.5.4I2C通信的存储器153
8.5.5SPI通信的存储器158
第9章测试数据分析164
9.1基本概念164
9.1.1测试结果（TestResult）164
9.1.2接受参照值（AcceptedReferenceValue）164
9.1.3准确度（Accuracy）164
9.1.4正确度（Trueness）165
9.1.5偏倚（Bias）165
9.1.6精密度（Precision）165
9.1.7重复性（Repeatability）165
9.1.8再现性（Reproducibility）165
9.1.9常用数据分析方法165
9.2相关性验证（CORR）166
9.3重复性与再现性（GRR）166
9.3.1不同配置之间的GRR计算167
9.3.2仪器验收的GRR计算170
9.4测试能力研究（TCS）174
9.5多Sites并行测试的数据验证176
9.6测试数据统计分析图177
9.7多Sites并行测试的效率以及UPH计算177
第10章信号和电源完整性的简介179
10.1方波的傅里叶级数179
10.2使用一阶RC电路仿真上升沿时间与带宽的关系184
10.3时域反射计（TDR）与线长校准185
10.4测试电路的地188
第11章实训平台介绍192
11.1QT-8100测试系统功能概述192
11.1.1QT-8100测试系统可测试的器件类型192
11.1.2QT-8100测试系统适用的测试过程193
11.1.3QT-8100测试系统的基础配置193
11.2QT-8100测试系统硬件系统组成194
11.2.1QT-8100测试系统的整体结构194
11.2.2QT-8100测试系统的硬件系统框图194
11.2.3QT-8100测试系统的主要模块和板卡195
11.2.4QT-8100测试系统的机架结构组成204
11.2.5QT-8100测试系统的通道资源简介205
11.2.6QT-8100测试系统的背板简介207
11.2.7QT-8100测试系统的培训板简介208
11.3QT-8100测试系统软件系统组成209
第12章测试方案开发简介211
12.1测试程序开发流程211
12.2测试程序的执行过程211
12.3测试函数的完整结构213
12.4测试方案开发流程214
第13章LDO的测试216
13.1Datasheet与Testplan的分析216
13.1.1Datasheet里的总体性能描述216
13.1.2Datasheet里的电气特性217
13.1.3Testplan里的测试规格218
13.1.4Testplan里的测试方法218
13.2测试方案的设计与调试222
13.2.1Open-Short测试222
13.2.2线性调整率225
13.2.3负载调整率227
13.2.4参考电压230
13.2.5调整脚电流234
13.2.6最小负载电流236
13.2.7优选负载电流239
13.2.8电源纹波抑制比241
第14章集成运算放大器的测试246
14.1集成运算放大器的基本特性246
14.1.1特征246
14.1.2工作模式246
14.2Datasheet的分析247
14.2.1重要特性247
14.2.2引脚定义与封装247
14.2.3功能原理框图248
14.2.4电气特性249
14.3集成运算放大器的测试方法250
14.3.1运放的VIO（VOS）参数测试250
14.3.2运放的CMRR参数测试250
14.3.3运放的IB（IIB）参数测试250
14.3.4运放的VOH＆VOL参数测试251
14.3.5运放的IQ（ICC）参数测试251
14.3.6运放的PSRR参数测试251
14.3.7运放的开环电压增益AVO（AVOL）参数测试252
14.3.8运放的压摆率（SlewRate，SR）参数测试253
14.4Testplan的分析254
14.5测试方案的设计255
14.5.1连续性（Continuity）255
14.5.2静态电流IQ256
14.5.3输出高电平VOH，输出低电平VOL257
14.5.4输入失调电压（VOS）257
14.5.5输入偏置电流（IB），输入失调电流（IOS）258
14.5.6电源抑制比（PSRR）259
14.5.7共模抑制比（CMRR）259
14.5.8开环放大倍数AVOL259
14.5.9压摆率（SR）260
14.5.10ATE的资源分配261
14.6测试函数的编写261
14.6.1测试工程的新建261
14.6.2测试程序的PINMAP设置262
14.6.3测试程序的Datasheet与Bin设置262
14.6.4测试函数的编写263
14.7测试程序的调试275
14.7.1测试项目的启动275
14.7.2测试项目的调试275
14.7.3测试结果276
第15章I2C接口的EEPROM存储器测试277
15.1Datasheet与Testplan的分析277
15.1.1Datasheet里的总体性能描述277
15.1.2Datasheet里的存储空间介绍278
15.1.3Datasheet里的物理连接介绍280
15.1.4Datasheet里的I2C总线介绍282
15.1.5Datasheet里的直流参数含义285
15.1.6Testplan的分析286
15.2测试方案的设计与调试287
15.2.1测试电路的设计287
15.2.2测试工程的新建287
15.2.3测试程序的PINMAP设置288
15.2.4测试程序的Datasheet与Bin设置289
15.2.5连续性测试289
15.2.6IIL/IIH/ISB的测试292
15.2.7Func_AA的测试295
附录采样定理以及ADC的量化噪声305
参考文献319
内容摘要
本书系统地介绍了集成电路测试所涉及的基础知识和实践经验。全书共分为15章。其内容包括实际的导线、电阻、电容、电感元件在测试电路中的影响，自动测试设备（ATE）V/I源的基本原理和实际应用，一些简单的模拟和数字集成电路测试原理和方法，测试数据分析的常用方法，以及测试电路相关的信号完整性方面的简单介绍，并结合测试开发的实际案例讲解了集成电路测试项目开发流程。以往这些内容分散到不同教材中，缺乏系统性。本书以集成电路测试为主线，从ATE应用角度，结合编者多年来的研发和应用经验，将基础知识串联起来。尤其从测试行业新人培养出发，加入了V/I源的基本原理和实际应用的讲解，并提供了仿真模型，使读者能够快速、全面地了解集成电路测试所需的各项基础知识。本书可作为集成电路测试工程师的学习教材，或者集成电路自动测试设备应用工程师的基础知识培训教材。
主编推荐
本书可作为集成电路测试工程师的学习教材，或者集成电路自动测试设备应用工程师的基础知识培训教材。
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