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半导体的检测与分析

5 八品

仅1件

广东佛山
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作者中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室

出版社科学出版社

出版时间1984-05

版次1

印刷时间1984-05

印次1

印数6千册

装帧平装

开本32开

纸张纯质纸

页数636页

字数534千字

上书时间2024-07-02

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