• 中华人民共和国国家标准 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理GB3834-83
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中华人民共和国国家标准 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理GB3834-83

4.8 0.57 九五品

库存2件

江苏常州
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作者国家标准局

出版社中国标准出版社

出版时间1984-04

版次1

印刷时间1984-04

印次1

装帧平装

开本16开

字数72千字

定价0.57元

货号85-2

上书时间2024-09-09

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   商品详情   

品相描述:九五品

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