图解入门. 半导体器件缺陷与 失效分析技术精讲
正版保障 假一赔十 电子发票
￥ 71.56 7.2折 ￥ 99 全新
库存20件
河北廊坊
认证卖家担保交易快速发货售后保障
作者日本可靠性技术丛书编辑委员会 编 李哲洋 等 译
出版社机械工业出版社
ISBN9787111749622
出版时间2024-02
装帧平装
开本16开
定价99元
货号978711174962299
上书时间2024-11-14
商品详情
- 品相描述：全新
相关推荐
— 没有更多了 —
以下为对购买帮助不大的评价