抗辐射集成电路设计理论与方法

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湖北武汉

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作者高武著

出版社清华大学出版社

ISBN9787302505297

出版时间2018-10

装帧精装

开本其他

定价139元

货号3148736

上书时间2024-04-30

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商品描述: 目录
本书首先介绍辐射环境、辐射相互作用物理过程及若干种辐射效应; 接下来, 本书详细介绍集成电路抗辐射加固设计方法学, 包括单粒子闩锁加固策略及测试、辐射加固器件的SPICE模型、抗辐射单元库设计、自动综合的抗辐射数字电路设计、模拟和混合信号电路加固设计等; 最后, 本书介绍集成电路辐射效应仿真、单粒子效应的脉冲激光测试原理和辐射加固保障测试。

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