互换性与技术测量
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作者张晓红 主编
出版社北京理工大学出版社
ISBN9787568233552
出版时间2017-03
版次1
装帧其他
开本16开
纸张胶版纸
页数212页
字数99999千字
定价45元
货号9787568233552
上书时间2024-12-16
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