功率半导体器件 封装、测试和可靠性
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作者邓二平、黄永章、丁立健 编著
出版社化学工业出版社
ISBN9787122449344
出版时间2024-05
版次1
装帧平装
开本16开
页数408页
字数636千字
定价139元
货号9787122449344
上书时间2024-11-17
商品详情
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