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互换性与测量技术基础
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作者廖念钊 主编
出版社中国计量出版社
出版时间2002
版次3
装帧其他
货号9787502615888
上书时间2024-12-21
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商品详情
- 品相描述：全新
图书标准信息
- 作者 廖念钊 主编
- 出版社 中国计量出版社
- 出版时间 2002
- 版次 3
- ISBN 9787502615888
- 定价 20.00元
- 装帧 其他
- 开本 26cm
- 页数 195页
- 正文语种 简体中文
- 【内容简介】
- 本书包括：尺寸公差与圆柱结合的互换性、测量技术基础、形位公差及检测、表面粗糙度、量规与光滑工件尺寸的检测等内容。
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