• III-V族异质结双极晶体管——从器件工作原理到电路模型
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III-V族异质结双极晶体管——从器件工作原理到电路模型

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作者张傲 高建军

出版社高等教育出版社

出版时间2023-11

装帧其他

货号9787040602968

上书时间2024-12-24

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品相描述:全新
图书标准信息
  • 作者 张傲 高建军
  • 出版社 高等教育出版社
  • 出版时间 2023-11
  • ISBN 9787040602968
  • 定价 89.00元
  • 装帧 其他
  • 开本 16开
【目录】

第1章绪论

微波射频异质结晶体管的分类

1.2异质结晶体管的特性指标

1.3半导体器件射频微波建模和测试

1.4本书的目标和结构:

参考文献・

第2章半导体器件建模中的去嵌方法

i2.1基本网络参数

2.1.1信号参数

2.1.2信号参数之间的关系

2.2二口网络的噪声特性

2.2.1噪声相关矩阵

2.2.2噪声相关矩阵之间的关系

2.3二口网络的互联

2.4寄生元件削去方法

2.4.1并联寄生元件削去方法

weo2.4.2串联寄生元件削去方法

2.4.3级联寄生元件削去方法

2.5 HBT 器件寄生元件的去嵌方法

2.5.1 PAD电容的去嵌方法

2.5.2、寄生电感的去嵌方法

2.5.3寄生电阻的去嵌方法

2.6本章小结

参考文献

第3章HBT器件基本工作原理

1 3.1 PN结二极管

+13.2双极晶体管工作原理

3.2.1 工作机理

3.2.2工作模式

3.2.3基区宽度调制效应

3.2.4大电流注人效应

3.3异质结晶体管工作原理

3.3.1半导体异质结工作原理

3.3.2常用HBT器件的物理结构和工作机理

3.4本章小结

参考文献-.-.

第4章寄生元件提取方法

4.1 HBT器件寄生元件网络

4.2 PAD电容提取方法

4.2.1开路测试结构提取方法

4.2.2截止状态提取方法

4.2.3考虑分布效应的提取方法

4.3寄生电感提取方法.....

4,3.1短路测试结构提取方法

4.3.2集电极开路提取方法

4.3.3馈线的趋肤效应

4.4寄生电阻提取方法

4.4,1一集电极开路方法

4,4.2Z参数方法

4.4.3截止状态方法

4.4.4基于T-网络转换的提取方法

4.5本章小结

监参考文献・

第5章HBT 本征元件提取方法

5.1 HBT器件本征网络

t5.1.1T型等效电路模型

5.1.2T型等效电路模型

5.1.3T型模型和ヶ型模型的关系

5.2器件结构

5.3主要技术指标“

5.3.1 Mason单向功率增益

5.3.2特征频率和最大振荡频率

5.4本征元件提取方法

5.4.1直接提取方法

5.4.2混合提取方法

SI 5.5本章小结-

B1L参考文献

第6章异质结晶体管大信号模型

6.1线性和非线性

6.2大信号模型和小信号模型

6.3半导体器件的热阻,

6.3.1热阻定义。

6.3.2等效电路模型

6.4常用的HBT模型

面6.4.1 VBIC 模型

6.4.2 Agilent HBT模型

6.4.3修正的 SGP模型

6.4.4本征元件随偏置变化曲线

色散效应,

6.5.1改进的Agilent模型

6.5.2DC/AC色散效应

6.5.3模型验证与结果分析

6.6本章小结

参考文献

第7章异质结晶体管噪声等效电路模型

7.1异质结晶体管噪声等效电路模型

7.2噪声参数计算公式....

7.3异质结晶体管噪声参数提取方法

7.3.1基于调谐器原理的噪声参数提取方法

7.3.2基于50几噪声测量系统的场效应晶体管噪声参数提取方法.

7.4共基极、共集电极和共发射极结构的场效应晶体管

7.4.1信号参数之间的关系

7.4.2噪声参数之间的关系

7.4.3理论验证和实验结果:

7.5按比例缩放噪声模型-

7.5.1小信号模型参数的缩放规则

7.5.2噪声模型参数的缩放规则

7.5.3实验结果和验证,

7.6含有独立噪声源的噪声电路模型

7.6.1基极和集电极噪声源的影响

7.6.2经验噪声电路模型

1 7.7本章小结

S6参考文献

 



精彩内容

本书从双极晶体管工作机理出发,采用对比分析的方法介绍异质结双极晶体管的优越性和形成机理。主要内容涵盖了III-V族化合物异质结双极晶体管的工作原理和电路模型构建,全书共分为7章,首先介绍基于去嵌方法展开异质结双极晶体管小信号寄生元件和本征元件提取方法,随后介绍微波射频异质结双极晶体管大信号非线性等效电路模型和噪声等效电路模型,以及相应模型的参数提取技术。

本书可以作为微波专业、电路与系统专业以及微电子专业的教学参考书,也可以供从事微电子器件和集成电路设计的科研人员参考使用。



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