现代物理实验原理与分析仪器 敬超著

图书标准信息

• 作者 敬超
• 出版社 科学出版社
• 出版时间 2023-03
• 版次 31
• ISBN 9787030750327
• 定价 199.00元
• 装帧 其他
• 开本 16开
• 页数 592页
• 字数 725千字

【内容简介】

本书系统地介绍了物理和材料研究领域常用的单晶生长和薄膜制备方法，以及用来表征晶体或薄膜结构、显微组织、形貌、成分、价态等方面的分析技术；涵盖了X射线衍射技术、各种电子显微技术、扫描探针技术、能谱技术、表面物理分析技术、核物理方法测试技术和光谱分析技术。并对这些分析技术的基本原理、仪器结构和应用等进行了系统的阐述。具体涉及的分析仪器包括X射线衍射仪、透射电子显微镜、扫描电子显微镜、能谱仪、波谱仪、低能电子衍射、高能电子衍射、俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、扫描隧道显微镜、原子力显微镜、正电子湮没技术、穆斯堡尔谱学、红外光谱和激光拉曼光谱等内容。

【目录】

前言

章 晶体和薄膜常见制备方法 1

1.1 晶体生长基本 1

1.1.1 自由能和晶体生长驱动力 1

1.1.2 晶核的形成 3

1.1.3 晶体的生长过程 5

1.2 晶体生长方法 9

1.2.1 提拉法 9

1.2.2 光学浮区法 12

1.2.3 布里奇曼法 16

1.2.4 固相反应法 19

1.3 薄膜生长方法 22

1.3.1 薄膜生长 22

1.3.2 热蒸发镀膜方法 25

1.3.3 电子束蒸发方法 30

1.3.4 溅镀膜方法 34

1.3.5 脉冲激光沉积方法 46

1.3.6 分子束外延方法 51

思题与题 56

主要参书目和参文献 57

第2章 固体x线衍学 63

2.1 引言 63

2.2 x线衍基础知识 64

2.2.1 x线质概述 64

2.2.2 x线的产生 65

2.2.3 x线的散 72

2.2.4 x线的吸收 80

2.2.5 x线衍 84

2.2.6 常用衍方法 90

2.3 晶体的x线衍强度 94

2.3.1 晶胞对x线的散 95

2.3.2 单晶粒对x线的散 99

2.3.3 粉末多晶的散积分强度 103

2.3.4 影响多晶衍强度的其他因素 107

2.4 x线衍仪结构 114

2.4.1 x线衍仪的发展历史概述 114

2.4.2 x线衍仪的结构 116

2.4.3 x线衍仪的常规测量 134

2.4.4 实验参数误差来源 137

2.5 x线衍数据处理和物相分析 143

2.5.1 粉末x线衍的特征数据及处理 143

2.5.2 物相的定分析 152

2.5.3 物相的定量分析 156

2.6 衍全谱拟合法和rietveld结构精修 161

2.6.1 衍全谱拟合法 162

2.6.2 约束、和刚体精修 166

2.6.3 rietveld精修定量分析方法 169

思题与题 175

主要参书目和参文献 177

第3章 电子显微术 180

3.1 引言 180

3.2 电子显微分析基础 182

3.2.1 光学显微镜的分辨率 182

3.2.2 电子波的波长 184

3.2.3 电子与物质的相互作用 186

3.2.4 电子透镜的基本结构 196

3.2.5 电磁透镜的像差和理论分辨距离 201

3.2.6 电子衍 205

3.3 透电子显微镜 221

3.3.1 透电子显微镜的主要结构 221

3.3.2 透电子显微镜中的衍 234

3.3.3 透电子显微镜样品准备 236

3.3.4 简单电子衍花样标定 243

3.3.5 简单电子衍花样的应用 250

3.3.6 复杂电子衍花样 252

3.3.7 透电子显微镜的图像衬度理论 267

3.3.8 电子能量损失谱 272

3.4 扫描电子显微镜 283

3.4.1 扫描电子显微镜的发展概况 283

3.4.2 扫描电子显微镜的基本工作与仪器结构 284

3.4.3 扫描电子显微镜的能参数 290

3.4.4 扫描电子显微镜像的衬度形成 292

3.4.5 扫描电子显微镜的试样制备 298

3.4.6 二次电子衬度像的应用举例 299

3.4.7 自旋极化扫描电子显微镜 300

3.4.8 背散电子衍分析 302

3.4.9 背散电子衍的应用 304

3.4.10 电子探针显微分析技术 309

3.4.11 扫描透电子显微镜 318

思题与题 322

主要参书目和参文献 325

第4章 表面物理实验方法 330

4.1 表面实验方法概述 330

4.1.1 表面谱仪概述 330

4.1.2 电子能量分析器及其能参数 332

4.1.3 电子信号的探测和处理方法 335

4.2 低能电子衍和反高能电子衍 336

4.2.1 低能电子衍的条件 337

4.2.2 低能电子衍实验装置 346

4.2.3 低能电子衍的实验方法和分析 347

4.2.4 反高能电子衍介绍 349

4.3 俄歇电子能谱 357

4.3.1 俄歇电子能谱的基本理论 358

4.3.2 俄歇电子能谱实验装置 360

4.3.3 俄歇电子能谱特点和主要技术参数 361

4.3.4 俄歇电子能谱的定分析 364

4.3.5 表面元素的定量分析 366

4.3.6 表面元素的化学价态分析 368

4.3.7 俄歇电子能谱的深度剖面分析 369

4.3.8 微区分析 370

4.4 x线光电子能谱 373

4.4.1 引言 373

4.4.2 x线光电子能谱的测量 375

4.4.3 能谱的理论计算 379

4.4.4 仪器实验装置 383

4.4.5 样品选择和制备 390

4.4.6 x线光电子能谱分析 391

4.4.7 x线光电子能谱的获得方式 395

4.4.8 x线光电子能谱的定和定量分析 396

4.5 扫描探针显微镜 401

4.5.1 扫描隧道显微镜 402

4.5.2 原子力显微镜 416

思题与题 426

主要参书目和参文献 428

第5章 核物理方法 435

5.1 引言 435

5.2 正电子湮没技术 435

5.2.1 正电子的发现及其物理质 436

5.2.2 晶体缺陷的捕获效应与正电子寿命谱 440

5.2.3 二态捕获模型和理想寿命谱 448

5.2.4 正电子谱学实验方法 452

5.2.5 慢正电子束及其在表面物理研究中的作用 467

5.2.6 寿命谱仪在固体材料中的应用 468

5.2.7 正电子谱学新进展 469

5.3 穆斯堡尔谱学 470

5.3.1 穆斯堡尔谱学的基本概念 471

5.3.2 穆斯堡尔谱的实验方法 484

5.3.3 穆斯堡尔谱的应用 491

思题与题 491

主要参书目和参文献 492

第6章 光谱分析技术 496

6.1 引言 496

6.2 傅里叶变换红外光谱 496

6.2.1 红外光谱的基本概念 496

6.2.2 傅里叶红外光谱学 510

6.2.3 红外光谱仪的结构组成 521

6.2.4 试样的处理和制备 525

6.2.5 红外光谱的应用 526

6.3 拉曼光谱 532

6.3.1 拉曼效应发展历史回顾 532

6.3.2 拉曼光谱基本 534

6.3.3 拉曼光谱仪的组成结构 563

6.3.4 拉曼光谱的定和定量分析 571

6.3.5 拉曼光谱与红外光谱比较 573

思题与题 574

主要参书目和参文献 575

常用物理常量 579

元素周期表 580