• 数字集成电路测试 理论、方法与实践
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数字集成电路测试 理论、方法与实践

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北京朝阳
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作者李华伟、郑武东、温晓青、赖李洋、叶靖、李晓维

出版社清华大学出版社

ISBN9787302662037

出版时间2024-06

版次1

装帧其他

开本16开

页数272页

字数393千字

定价79元

货号1203303609

上书时间2024-12-14

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