SystemVerilog数字集成电路功能验证

图书标准信息

• 作者 王旭
• 出版社 人民邮电出版社
• 出版时间 2023-09
• 版次 1
• ISBN 9787115614056
• 定价 79.80元
• 装帧 其他
• 开本 其他
• 纸张 胶版纸
• 页数 316页
• 字数 497千字

【内容简介】

本书讲解了 SystemVerilog 的基本语法和工作原理，同时结合了 UVM 验证方法学中的验证技术知识。讲述的内容主要包括：基本数据类型、接口、类、随机化、约束、进程同步、功能覆盖和 DPI 技术。书中使用了约 270 个完整实例，详细说明了每个知识点在实际项目中的应用。最后使用学过的验证技术搭建一个基于SystemVerilog 的简单验证平台。书中还介绍了 UVM 中的一些关键技术，主要包括：继承和派生，拷贝函数、单例类、测试登记表、代理类和工厂机制。为接下来系统学习 UVM 验证方法学打下坚实的基础。

【作者简介】

王旭，从事数字集成电路方面的教学和研发，目前在学校主要讲述集成电路验证的课程、在企业作为兼职顾问，负责为企业研发的芯片指定验证方案、验证计划。

【目录】

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前言

第1章验证导论

1.1芯片设计流程

1.2功能验证与测试平台

1.3验证流程

1.4验证语言和验证方法学

1.5定向测试和受约束随机测试

1.6层次化测试平台

1.7层次化测试平台的执行

1.8练习题

第2章测试平台和数据类型

2.1测试平台

2.1.1被测设计

2.1.2测试模块

2.1.3测试平台项层模块

2.2基本数据类型

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