超声全聚焦成像检测技术及应用
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江苏无锡
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作者陈尧,卢超 著
出版社机械工业出版社
ISBN9787111765028
出版时间2024-12
装帧平装
开本32开
定价149元
货号1203425267
上书时间2024-12-04
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目录
序
前言
第1章超声全聚焦成像检测概述
1.1全聚焦成像检测技术简介
1.2全聚焦的特点和优势
1.3全聚焦的发展和研究现状
第2章超声全聚焦信号和图像基础理论
2.1信号的数学表达
2.2超声检测信号
2.2.1频率特征
2.2.2脉冲宽度和频带宽度
2.2.3显示形式
2.3超声检测信号的数字化
2.3.1模数转换
2.3.2采样
2.3.3量化和编码
2.4超声检测信号的图像化
2.4.1图像化处理对超声检测的意义
2.4.2超声无损检测图像化的原理
2.4.3伪色彩图像成像原理
2.5超声图像的显示
2.5.1波形显示的特点和类别
2.5.2幅值显示的特点
第3章超声阵列信号采集与图像重建
3.1阵列探头所发声波传播特征
3.1.1超声阵列探头
3.1.2线性阵列探头波前特征
3.1.3线性阵列探头声束指向特征
3.2自发自收阵列信号采集
3.3时距曲线和偏移理论
3.3.1时距曲线
3.3.2时距曲线的偏移
3.4延时叠加原理
3.4.1等时面
3.4.2阵列信号能量的分配
3.5延时叠加图像重建的实现
3.5.1合成孔径聚焦成像
3.5.2重建图像的显示模式
第4章全聚焦和相干复合平面波成像
4.1全矩阵捕捉
4.2全聚焦图像重建
4.2.1一发多收时距曲线
4.2.2全聚焦成像的实现
4.3平面波阵列信号的采集
4.3.1阵列探头平面波的发射
4.3.2平面波信号的采集和存储
4.4相干复合平面波成像
4.4.1平面波视速度
4.4.2平面波声传播时间
4.4.3相干复合平面波成像的实现
第5章全聚焦成像质量和图谱特征
5.1超声图像质量指标
5.1.1分辨率
5.1.2对比度
5.2重建像素点间隔
5.2.1横向像素点间隔
5.2.2纵向像素点间隔
5.3阵元参数
5.3.1阵元数量
5.3.2阵元间隔
5.3.3阵元的脉冲宽度
5.3.4阵元的中心频率
5.4平面波发射有效孔径
5.5全聚焦图谱特征
5.5.1体积型缺陷的特征
5.5.2面积型缺陷的特征
5.5.3面积型缺陷定量
5.6定位误差分析
5.6.1体积型缺陷定位误差分析
5.6.2面积型缺陷定位误差分析
第6章双层介质全聚焦成像
6.1声阻抗界面处的超声波反射与折射
6.1.1垂直入射时的反射和透射
6.1.2斜入射时的反射和折射
6.1.3超声波倾斜入射临界角
6.2费马原理
6.3双层介质全聚焦成像技术
6.4双层介质平面波成像技术
第7章相位相干成像检测技术
7.1瞬时相位相干性分析
7.1.1超声信号的瞬时相位
7.1.2全聚焦成像中的瞬时相位
7.2相位相干因子及相干加权
7.2.1线性统计学相干因子
7.2.2环形统计学相干因子
7.3全聚焦相位相干成像
7.3.1试验设备与试块介绍
7.3.2各向同性介质全聚焦加权成像
7.3.3各向异性介质全聚焦加权成像
7.3.4不同相干因子的加权特点
7.4时差衍射-相位相干成像
7.4.1时差衍射-相位相干成像原理
7.4.2时差衍射-相位相干成像案例
第8章频域全聚焦成像技术
8.1频域合成孔径聚焦
8.1.1爆炸反射模型和波场外推
8.1.2波动方程
8.1.3相位迁移成像方法
8.1.4Stolt迁移成像方法
8.2频域全聚焦图像重建
8.2.1双平方根算子相位迁移
8.2.2波数域全矩阵数据成像
8.3频域平面波成像
8.3.1平面波Garcia频域图像重建
8.3.2平面波相位迁移成像
8.3.3平面波Lu氏频域成像
8.4频域成像的特点和应用
第9章多模全聚焦成像
9.1反射规律与反射模式
9.1.1端角反射
9.1.2反射模式
9.2半跨模式全聚焦成像
9.3全跨模式全聚焦成像
9.4多模全聚焦的视图选择
9.5多模全聚焦的应用场景
9.6多模全聚焦相位相干成像
第10章全聚焦衍生技术
10.1虚拟源成像技术
10.1.1虚拟源发射
10.1.2图像重建原理
10.1.3虚拟源图像重建示例
10.2规则双层介质频域图像重建
10.2.1平面波图像重建原理
10.2.2图像重建示例
10.3弯曲界面双层介质时域图像重建
10.3.1弯曲界面声传播路径
10.3.2弯曲界面量化表征
10.3.3弯曲工件重构界面成像检测实例
10.4弯曲界面双层介质频域图像重建
参考文献
结束语
内容摘要
本书对超声全聚焦成像检测理论进行了介绍，给出了新的MATLAB 方程和源代码，采用图示和MATLAB 实例相结合的方式，可使读者加深对全矩阵捕捉、延时叠加、全聚焦图像重建等概念的理解，还介绍了双层介质全聚焦成像、多模全聚焦成像、相位相干成像、频域全聚焦成像技术等，并系统介绍了全聚焦成像技术在无损检测领域的应用。本书可供超声无损检测技术及相关领域的科研人员、工程技术人员参考，也可作为高等院校无损检测与仪器类相关专业本科高年级学生和研究生的教材。
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