X射线荧光光谱的基本参数法

图书标准信息

• 作者 卓尚军 著
• 出版社 上海科学技术出版社
• 出版时间 2010-11
• 版次 1
• ISBN 9787547805077
• 定价 68.00元
• 装帧 精装
• 开本 32开
• 纸张 胶版纸
• 页数 379页
• 字数 313千字

【内容简介】

《X射线荧光光谱的基本参数法》是X射线荧光光谱分析领域专门讲述基本参数法的第一本书。书中，作者结合自己的研究成果和实践经验，系统而详细地介绍了X射线荧光光谱分析中的基本参数法的基本原理、方法中用到的各种基本参数、理论荧光强度计算、散射对理论荧光强度的影响、多层膜样品中荧光强度计算的问题、基本参数法的实现和应用实例，书末还列出了重要的基本参数。
本书可供从事X射线荧光光谱研究与实际分析的科研和技术人员阅读，也可作为X射线荧光光谱分析或相关专业教师和研究生的参考读物。

【目录】

第1章x射线荧光光谱分析概述
1．1引言
1．2x射线光谱
1．2．1X射线的定义
12．2X射线的性质
1．2．3X射线光谱的产生
1．3X射线与物质的相互作用
1．3．1吸收系数
1．3．2衰减系数
1．3．3吸收截面
1．3．4吸收系数和波长的关系
1．3．5散射
1．4布拉格定律
1．5俄歇效应和荧光产额
1．6X射线荧光光谱仪
1．7X射线荧光光谱定性分析
1．8X射线荧光光谱定量分析
1．8．1定量分析概述
1．8．2基体效应
1．8．3元素间吸收一增强效应
1．8．4校正曲线法
1．8．5内标法
……