• 高速复杂互连的串扰故障测试技术 9787560646022
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高速复杂互连的串扰故障测试技术 9787560646022

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浙江嘉兴
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作者尚玉玲//李春泉

出版社西安电子科大

ISBN9787560646022

出版时间2017-09

装帧平装

开本其他

定价29元

货号30015976

上书时间2024-09-22

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   商品详情   

品相描述:全新
商品描述
商品简介

 

本书系统、深入地介绍了高速复杂互连的串扰测试基本理论、原理、技术与方法,主要内容涉及三个方面:高速复杂互连线串扰测试、高速复杂互连结构串扰测试、高速互连通路串扰故障的ATPG技术。书中以非理想互连线的渐进式串扰故障和复杂拓扑结构的串扰故障测试技术为核心,论述了复杂互连线串扰测试方法;以过孔、球栅阵列焊点等为对象,讨论复杂互连结构信号传输性能及等效电路、双路径复杂互连结构串扰及故障测试技术;以串扰尖峰脉冲及时延故障为对象,讨论高速互连通路串扰故障的ATPG技术。

 

本书可作为从事电路与系统、电子信息技术、测控技术与仪器方向学术研究的科技人员及企事业单位管理人员的参考书,也可作为高等院校电路、计算机、机械制造、自动化等专业研究生和高年级本科生的教材。

 

 
 
 
 

作者简介
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目录
第1章  绪论
  1.1 信号完整性测试产生的背景
    1.1.1 信号完整性及串扰问题
    1.1.2 高速互连串扰测试面临的挑战
  1.2 国内外研究现状
    1.2.1 串扰估计与仿真
    1.2.2 串扰故障模型
    1.2.3 串扰测试算法
    1.2.4 测试工具及设备
 1.3 本书的内容与结构
第2章  高速互连串扰的理论基础及测试原理
 2.1 引言
 2.2 高速互连电路的基本概念及理论基础
    2.2.1 高速互连电路的基本概念
    2.2.2 传输线方程
    2.2.3 传输线的工作特性参数
  2.3 串扰的定义及耦合机理
    2.3.1 串扰的定义
    2.3.2 容性耦合与感性耦合
    2.3.3 奇模与偶模传输模式
  2.4 串扰的影响因素及特性仿真与分析
    2.4.1 耦合长度因素对串扰的影响
    2.4.2 线间距对串扰的影响
    2.4.3 互连线宽度对串扰的影响
    2.4.4 跳变时间对串扰的影响
    2.4.5 攻击线数目对串扰的影响
  2.5 串扰的故障模型及测试
    2.5.1 串扰的攻击特性
    2.5.2 最大攻击者模型
    2.5.3 多跳变故障模型
    2.5.4 HT故障模型
    2.5.5 MDSI故障模型
第3章  非理想互连几何结构的串扰测试技术
 3.1 引言
 3.2 非理想互连几何结构的定义及分类
    3.2.1 基本定义
    3.2.2 互连结构的分类
  3.3 非理想几何结构的串扰特性仿真与分析
    3.3.1 互连线的等分化处理
    3.3.2 非均匀平行互连结构的串扰仿真与分析
    3.3.3 均匀非平行互连结构的串扰仿真与分析
    3.3.4 非均匀非平行互连结构的串扰仿真与分析及简化
  3.4 基于正交设计的高速互连系统渐进式串扰故障测试
    3.4.1 高速互连系统几何结构的形式化描述
    3.4.2 串扰故障类型
    3.4.3 串扰故障测试的基本原理
    3.4.4 渐进式串扰故障的基本思想
    3.4.5 基于正交设计的串扰故障主次因分析
  3.5 渐进式串扰故障测试算法
    3.5.1 测试算法的实现

内容摘要
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精彩内容
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