• 原子探针显微学
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原子探针显微学

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广东广州
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作者[加]Baptiste Gault

出版社中国科技出版传媒股份有限公司

ISBN9787030474261

出版时间2015-09

装帧平装

开本其他

定价135元

货号8679737

上书时间2024-12-27

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商品描述
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译者序原书序致谢关键词列表符号表第1章 概述参考文献第2章 场离子显微镜2.1 原理2.1.1 场致电离理论2.1.2 “看见”原子:场离子显微镜2.1.3 FIM的空间分辨率2.2 FIM的设备和技术2.2.1 FIM设备2.2.2 电子FIM和数字FIM2.2.3 层析FIM技术2.3 FIM图像的解释2.3.1 纯材料图像的解释2.3.2 合金图像的解释2.3.3 FIM的部分应用2.3.4 总结

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