先进集成电路电磁兼容测试与建模
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作者[美]亚历山大·博耶,艾·西加
出版社国防工业出版社
ISBN9787118126075
出版时间2021-02
装帧平装
开本16开
定价128元
货号11914791
上书时间2024-11-12
商品详情
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目录
第1章集成电路电磁兼容性介绍
1.1电磁干扰
1.2电磁环境
1.3电子系统中的电磁风险
1.3.1电磁骚扰对无线电通信系统的影响
1.3.2电磁骚扰对医疗器械的影响
1.3.3电磁骚扰对军事系统的影响
1.3.4电磁骚扰对航空系统的影响
1.3.5电磁骚抗对汽车系统的影响
1.4什么是EMC
1.4.1定义
1.4.2电磁发射
1.4.3敏感度和抗扰度
1.4.4噪卢路径
1.5电磁兼容法则
1.5.1欧洲电磁兼容立法
1.5.2美国电磁兼容立法
1.5.3电磁兼容特别立法
1.5.4EMC法规的演变
1.6集成电路电磁兼容
1.6.1为什么在IC级解决电磁兼容问题?
1.6.2ICEMC发展简史
1.6.3谁对ICEMC感兴趣?
参考文献
第2章集成电路的世界
2.1电子工业发展
2.2逐渐增加的集成电路复杂度
2.3频率
……
内容摘要
本书的内容涵盖了学习如何在发射、免疫和信号完整性问题上对电路及其周围环境(PCB)进行建模的概念,由仿真软件IC-EMC来说明理论概念以及实践案例研究。全书共12章,第1、2章介绍了优选集成电路的技术和性能趋势,并着重讨论了它们对不同EM问题的影响。第3章提供了理解本书所需的几个理论概念。第4章概述了影响电子设备的不同EM问题。第5、6章主要针对集成电路安装后所产生的EM问题,进行了预测分析,并提出了解决方案。第7章介绍了EMC测试的基本概念。第8、9九章介绍了最常用的测试方法,专门用于表征IC发射和敏感度。最后3章讲述了IC级EM问题建模及建模方。
精彩内容
本书的内容涵盖了学习如何在发射、免疫和信号完整性问题上对电路及其周围环境(PCB)进行建模的概念,由仿真软件IC-EMC来说明理论概念以及实践案例研究。全书共11章,第1、2章介绍了优选集成电路的技术和性能趋势,并着重讨论了它们对不同EM问题的影响。第3章提供了理解本书所需的几个理论概念。第4章概述了影响电子设备的不同EM问题。第5、6章主要针对集成电路安装后所产生的EM问题,进行了预测分析,并提出了解决方案。第7章介绍了EMC测试的基本概念。第8、9九章介绍了最常用的测试方法,专门用于表征IC发射和敏感度。最后3章讲述了IC级EM问题建模及建模方。
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