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微光像增强器测试技术

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￥ 16.18 1.9折 ￥ 84 全新

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作者邱亚峰

出版社北京理工大学出版社

ISBN9787576307597

出版时间2021-12

装帧平装

开本其他

定价84元

货号11520283

上书时间2024-09-06

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品相描述：全新
商品描述
目录
第1章测试基础

1.1热电子面发射源的研究

1.1.1热电子面发射源的理论分析

1.1.2热电子面发射源电场分布和电子轨迹计算.

1.2热电子面发射源的结构设计

1.3热电子面发射源调试试验

1.3.1热电子面发射源的性能试验及分析

1.3.2热电子面发射源与其他热电子发射源的比较

1.4新型热电子面发射源的研究

1.4.1传统热电子面发射源与新型热电子面发射源分析

1.4.2新型热电子面发射源测试试验

1.4.3已设计的热电子面发射源样机

1.5漫反射原理及积分球的研究

1.5.1漫反射原理及漫反射材料性质

1.5.2理想积分球研究

1.5.3积分球出光孔照度衰减的研究

1.5.4积分球出光孔照度标定方法的研究

1.5.5积分球设计

1.6真空系统的调试与测试试验

1.6.1真空系统的烘烤除气处理与真空度调试

1.6.2真空系统的漏率测试计算

1.6.3真空系统空/负载性能研究

第2章像增强器零部件测试技术

2.1MCP电子清刷测试理论研究

2.1.1MCP的工作原理

2.1.2MCP电子清刷测试理论

2.2电子清刷测试系统的性能指标与总体方案设计

2.2.1系统的设计要求与性能指标

2.2.2系统方案总体设计

2.3MCP电阻与增益的测试及结果分析

2.3.1高温烘烤对MCP体电阻的影响测试研究

2.3.2电子清刷对MCP增益的影响测试研究

2.4荧光屏发光特性研究

2.4.1固体发光及表征发光特性的物理量

2.4.2阴极射线致发光

2.5像增强器荧光屏综合参数测试系统的研究

2.5.1荧光屏综合参数测试系统的设计理论

2.5.2荧光屏综合参数测试系统的测试原理

2.5.3荧光屏综合参数测试系统的理论设计

2.5.4表征荧光屏性能的主要参数的定义及测试方法

2.6荧光屏4种参数测试的结构设计及保障

2.6.1荧光屏均匀性和发光亮度测试的结构设计及保障

2.6.2荧光屏发光效率测试的结构设计及保障

2.6.3荧光屏发光余辉测试的结构设计及保障

2.7荧光屏综合参数测试系统总成

2.7.1荧光屏综合参数测试系统的组成.

2.7.2荧光屏综合参数测试系统的控制模块

2.7.3荧光屏综合参数测试系统性能指标

第3章像增强器噪声因子测试技术

3.1微光像增强器噪声因子理论

3.2噪声特性测试系统总体设计

3.3MCP与荧光屏组件噪声特性测试原理及方法

3.4MCP与荧光屏组件噪声特性测试系统调试与结果分析

3.4.1真空系统测试

3.4.2 MCP与荧光屏组件噪声特性测试及结果分析

第4

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