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半导体器件可靠性与失效分析

无写划

50 1.7 八五品

仅1件

陕西西安
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作者卢其庆,张安康

出版社江苏科学技术出版社

出版时间1981-04

版次1

印刷时间1983-09

印次3

印数4千册

装帧平装

开本16开

字数433千字

定价1.7元

货号2.1

上书时间2024-09-22

   商品详情   

品相描述:八五品

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