半导体集成电路的可靠性及评价方法
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作者章晓文 著
出版社电子工业出版社
ISBN9787121271601
出版时间2015-10
版次1
装帧平装
开本16开
纸张轻型纸
页数412页
字数519千字
定价88元
货号集文天下
上书时间2024-09-27
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