互换性与测量技术第二版

图书标准信息

• 作者 陈于萍、高晓康 编著
• 出版社 高等教育出版社
• 出版时间 2005
• 版次 2
• ISBN 9787040170085
• 定价 20.90元
• 开本 26cm
• 页数 254页
• 正文语种 简体中文

【内容简介】

本书介绍了几何量公差的有关标准、选用方法和误差检测的基本知识。包括：测量技术基础、光滑圆柱体结合的互换性及其检测、形状和位置公差及其检测等。