T/CIE 134-2022 磁随机存储芯片数据保持时间测试方法
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北京通州
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作者中国标准出版社
出版社中国标准出版社
出版时间2024-08
版次1
印刷时间2024-08
印次1
印数1千册
装帧平装
开本16开
纸张胶版纸
页数12页
字数20千字
定价20元
货号5-5326
上书时间2024-10-18
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商品详情
- 品相描述：全新
- 商品描述
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本文件规定了磁随机存储芯片数据保持时间测试方法的测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等。
本文件适用于磁随机存储芯片的数据保持时间测试和磁随机存储芯片的数据保持时间验证。
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