半导体材料及器件辐射缺陷与表征方法（
全新正版书籍，假一罚十，中秋国庆发货（图片为标准图，仅供参考。以标题为准，不了解的可以询问客服。）
￥ 84.77 6.6折 ￥ 128 全新
库存5件
作者李兴冀
出版社哈尔滨工业大学出版社
ISBN9787576705447
出版时间2023-07
版次1
装帧其他
开本16开
纸张胶版纸
页数401页
字数500千字
定价128元
货号1203171165
上书时间2024-12-04
商品详情
- 品相描述：全新
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作者李兴冀
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ISBN9787576705447
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