材料分析测试技术:材料X射线衍射与电子显微分析。
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作者周玉、武高辉 著
出版社哈尔滨工业大学出版社
ISBN9787560313382
出版时间2007-08
版次2
装帧其他
开本其他
纸张胶版纸
页数283页
字数421千字
定价36.8元
货号1201827875
上书时间2024-12-19
商品详情
- 品相描述：全新
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